Beschreibung

• Figure Caption: Two examples of images from an ESEM. Taken with a Philips XL-30 FEG. The first shows an electron beam deposited nanowire between two microelectrodes that has burnt after sustaining a high bias current. The other shows a multiwall carbon nanotube sample. Shorter working distances often improve image quality and so does a low beam current but it also increases the image acquisition time.

• Thanks to Haldor Topsøe A/S for ESEM time.

• This illustration was made for the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology

• Please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!

• The image also appears on the Commons/nanotechnology page

• Illustration by Kristian Molhave

Lizenz

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